Comment pouvons-nous mesurer les valeurs de CV et révéler les distributions en taille réelle?

Au fil des années de travail avec les nanosphères et les microsphères, nos chercheurs et nos techniciens ont parfaitement compris l’importance des distributions de tailles d’un lot à l’autre. Dans le domaine de la caractérisation de la taille, il existe principalement deux méthodes, la micrographie électronique à balayage/transmission/transmission à balayage (SEM/TEM/STEM) et la diffusion dynamique de la lumière (c.-à-d. DLS). Malheureusement, nous avons constaté que les DLS ne permettent pas de déterminer avec précision les distributions de taille des nano-/microsphères par rapport aux techniques SEM/TEM/STEM.
 

• Les résultats DLS sont étroitement liés à la stabilité colloïdale et, inévitablement, les distributions de taille ne seront pas précises pour les nanoparticules de grande taille. Pour les nanoparticules inférieures à 100 nm, les tailles hydrodynamiques deviennent pertinentes. Toutefois, pour les nanoparticules de quelques centaines de nanomètres ou plus, la stabilité colloïdale est fortement affectée par le rôle de la gravité. En comparaison, les images SEM/TEM/STEM ne sont basées que sur des échantillons secs où une reproductibilité et une fiabilité supérieures ont été constatées au travers de nombreuses études menées dans notre cas et dans la littérature.
   

• DLS ne peut pas distinguer les nanoparticules elles-mêmes des agrégats de surfactants. Comme la plupart de nos nanosphères/microsphères colloïdales ont une trace de surfactants ajoutés délibérément dans le système pour une durée de vie prolongée, le DLS devient impropre à une mesure directe de la taille, à moins que les nano-/microsphères ne soient lavées au moins trois fois avec de l'eau Milli-Q eau ionisée pour éliminer complètement toute trace de tensioactifs. De même, les nanos/microsphères dues à une remise en suspension inefficace faussent également les résultats du DLS; par exemple, un couple de nanoparticules agrégées de 100 nm pourrait être vu sous forme de nanoparticules de 200 nm ou 300 nm dans des mesures DLS.
   

• DLS ne peut donner aucun aperçu de la forme ou du degré sphérique des nano-/microsphères. Les particules de forme irrégulière et les particules parfaitement sphériques peuvent être interprétées de la même manière avec les mesures DLS.

En conséquence, nous utilisons des techniques SEM/TEM/STEM au lieu des mesures DLS comme méthode de contrôle qualité de routine. Nous prenons régulièrement au moins 10 micrographies électroniques et les traitons avec ImageJ pour les distributions de taille ainsi que la valeur CV. C’est aussi la raison pour laquelle nous incluons généralement quelques images représentatives SEM/TEM/STEM avec nos produits lors de leur livraison à nos clients. Nous souhaitons révéler les distributions en taille réelle et permettre aux clients de visualiser directement les images de nano-/microsphères au lieu de visualiser les courbes ajustées indirectement.